SRM 1976c X射線粉末衍射儀器響應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)品使用

SRM 1976c X射線粉末衍射儀器標(biāo)準(zhǔn)品由燒結(jié)氧化鋁圓盤(pán)組成，用于校準(zhǔn) X 射線粉末衍射設(shè)備的線位置和強(qiáng)度作為 2θ 角的函數(shù)。 SRM 的固體形式消除了由樣品加載過(guò)程引入的強(qiáng)度測(cè)量中的任何可變性。 SRM 1976c 的一個(gè)單元由一個(gè)直徑約為 25.6 毫米、厚度為 2.2 毫米的燒結(jié)氧化鋁圓盤(pán)組成。

材料說(shuō)明：

用于生產(chǎn)此 SRM 的制造工藝是為生產(chǎn)電子元件基板而開(kāi)發(fā)的。用作這些基材前體的氧化鋁粉末具有高相純度（剛玉結(jié)構(gòu)），具有片狀顆粒形態(tài)。血小板的直徑通常為 5 μm 至 10 μm，厚度為 2 μm 至 3 μm。圓盤(pán)的壓實(shí)過(guò)程導(dǎo)致軸對(duì)稱(chēng)紋理基面趨向于與圓盤(pán)表面平行。紋理的這種軸對(duì)稱(chēng)特性允許樣品以任何關(guān)于表面法線的方向安裝。使用小百分比的鈣長(zhǎng)石玻璃相對(duì)壓塊進(jìn)行液相燒結(jié)。未檢測(cè)到結(jié)晶雜質(zhì)。液相燒結(jié)中涉及的玻璃相有效地防止了顆粒間的接觸，并在從燒結(jié)溫度冷卻碎片的過(guò)程中松弛。這導(dǎo)致微應(yīng)變的最小發(fā)展及其相關(guān)的線展寬；盡管可以檢測(cè)到一些微應(yīng)變，因?yàn)榫哂?tanθ 依賴(lài)性的高斯展寬。鑒于此，以及基本不存在微晶尺寸展寬，SRM 1976c 可用于獲得儀器輪廓函數(shù) (IPF) 的近似值。但是，不推薦使用 SRM 1976c 進(jìn)行定量微觀結(jié)構(gòu)分析。包含該 SRM 原料的圓盤(pán)是在單一的專(zhuān)用生產(chǎn)運(yùn)行中制造的，以確保微觀結(jié)構(gòu)在晶粒尺寸、形狀、微應(yīng)變和紋理方面的一致性。

存儲(chǔ)和使用說(shuō)明：

SRM 1976c  X射線粉末衍射儀器響應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)品由燒結(jié)氧化鋁襯底組成，本質(zhì)上與1991年以來(lái)可用的NIST SRM相同。雖然沒(méi)有進(jìn)行長(zhǎng)期穩(wěn)定性研究，但在實(shí)驗(yàn)室條件下使用時(shí)，我們沒(méi)有證據(jù)表明該SRM的衍射性能有任何退化。此外，眾所周知鋁是一種高度穩(wěn)定的氧化物。表面被其他晶體材料污染可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)中出現(xiàn)不雜質(zhì)線。暴露在x射線下可能會(huì)變色；這并不影響認(rèn)證。

使用（SRM 1976c的安裝）：

SRM的光盤(pán)格式被選擇以適應(yīng)許多樣品支架的幾何形狀。衍射數(shù)據(jù)只能從標(biāo)簽對(duì)面收集。在制造過(guò)程中，用于制造圓盤(pán)的沖壓操作導(dǎo)致圓盤(pán)表面的邊緣相對(duì)于中心凹陷約10 μm。由于氧化鋁對(duì)x射線的衰減很低，這并不被認(rèn)為是一個(gè)重大的困難，安裝過(guò)程中的高度調(diào)整應(yīng)該相對(duì)于圓盤(pán)的中心（另見(jiàn)“使用srm 1976c測(cè)試儀器靈敏度”）。

來(lái)源材料：用于SRM 1976c  X射線粉末衍射儀器響應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)品的氧化鋁盤(pán)由International Business Machines Corporation，East Fishkill， NY制造。

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